• Kontakt
  • Karriere
  • AGB
  • Zahlungsformular
  • DE
  • EN
  • CN

Black cat logo Langer EMV-Technik

  • Über uns
    • Firma
      • Karriere
      • AGB
      • Firmenprofil
      • Meilensteine
    • Distributoren
      • Asien
      • Europa
      • Nord Amerika
    • Kontakt
    • Anfahrt
    • Förderungen
    • Veranstaltungen
    • Zahlungsformular
  • Produkte
    • PCB-Störfestigkeit
      • Entwicklungssystem Störfestigkeit
      • Mini - Burstfeldgeneratoren
      • Zubehör EFT/Burst Generatoren IEC 61000-4-4
      • Optische Signalübertragung
      • Burstdetektor
    • PCB-Störaussendung
      • Entwicklungsbegleitende Messtechnik
      • Nahfeldsonden
      • Vorverstärker
      • Nahfeldmikrosonden
      • Optische Signalübertragung
    • IC Test System
      • IC Testumgebung
      • Störaussendung
      • Störfestigkeit
      • Simulation
    • IC Sicherheit
      • Fault Injection
      • Seitenkanalanalyse
      • Positioniersysteme
    • Positioniersysteme
      • Langer Scanner
      • Zubehör für Langer Scanner
      • Nahfeld-Scannersonden
    • Software
      • CS-Scanner, Software ChipScan-Scanner / USB
      • CS-ESA set, Software ChipScan-ESA / USB
    • Mess- und Kalibrierplätze
      • PCB
      • IC
      • Steckverbinder
    • Messtechnik für Lehre und Ausbildung
      • EMC-Basic 1 set, Demonstrationsboards Mini-Burstfeldgeneratoren
      • EMC-Basic 2 set, Demonstrationsboards Nahfeldsonden
      • DB 20 set, Demo Board 20
      • D10 set, EMV Demonstrationselektronik
  • Seminare
    • SF-GE, EMV Experimentalseminar Störfestigkeit Grundlagen & Entstörung (3 Tage)
    • SF-G, EMV Experimentalseminar Störfestigkeit - Grundlagen (2 Tage)
    • SA-GE, EMV Experimentalseminar Störaussendung Grundlagen & Entstörung (3 Tage)
    • SA-G, EMV Experimentalseminar Störaussendung - Grundlagen (2 Tage)
    • SF IHS, EMV Inhouseseminar Störfestigkeit 3 Tage
    • SA IHS, EMV Inhouseseminar Störaussendung 2 Tage
    • Terminübersicht
  • Dienstleistungen
    • EMV Workshops
      • WS ESA1, Workshop Entwicklungssystem Störaussendung
      • WS IC, Workshop EMV für integrierte Schaltkreise
      • WS PCB, Workshop Entwicklungsbegleitende EMV Störaussendung und Störfestigkeit
      • WS Scanner, Workshop zu Langer Scannern
    • IC-EMV Analyse
      • Störaussendung
      • Störfestigkeit
    • EMV Analyse
      • SMM Langer, Messung der elektromagnetischen Abschirmung nach dem Langer-Verfahren
      • COCI, Messung der Koppelinduktivität von Steckverbindern und Kabeln
    • EMV-B, EMV-Beratung und Elektronikentstörung
  • EMV-Wissen
    • Fachartikel Board-EMV
      • Basiswissen
      • Störfestigkeit
      • Störaussendung
    • Fachartikel IC-EMV
      • Basiswissen
      • Störfestigkeit
      • Störaussendung
    • Langer EMV-Technik in der wissenschaftlichen Forschung
    • Newsletter
      • 17 ESA1 set
      • 16 ICI-DP sets
      • 15 Schirmzelt und GP 23 set
      • 14 Mini-Burstfeldgeneratoren im Westentaschenformat
      • 13 Störfestigkeit EMV Schwachstellensuche:
      • 12 ICR: Nahfeldanalyse im Mikrometerbereich und ihre Vorteile
      • 11 ChipScan-ESA unterstützt nun mehr Messgeräte
      • 10 P512 und DPI
      • 09 Surface Scan on IC Level with high Resolution
      • 08 ESD und effizientes elektronisches Design
      • 07 EMV-Messtechnik zur Prüfung integrierter Schaltungen - Eine Einführung
      • 06 Messung der Schirmdämpfung auf IC-Ebene mit dem IC-Testsystem P1402/P1502
      • 05 Zeit- und Kostenersparnis bei der Aufnahme und Dokumentation von HF-Messungen mit Spektrumanalysatoren
      • 04 Strahlungsgebundene Störaussendung von PCB-Ebene - Eine Einführung
      • 03 Entstörung eines mit PWM betriebenen Gleichstrommotors
      • 02 XF Nahfeldsonden und LVDS Entstörung
      • 01 MFA Mikrosonden und LVDS Entstörung
    • Videos
      • Produktanwendung
      • EMV Webinar
  • PCB-Störfestigkeit
  • PCB-Störaussendung
  • IC Test System
  • IC Sicherheit
  • Positioniersysteme
  • Software
  • Mess- und Kalibrierplätze
  • Messtechnik für Lehre und Ausbildung
    • EMC-Basic 1 setDemonstrationsboards Mini-Burstfeldgeneratoren
    • EMC-Basic 2 setDemonstrationsboards Nahfeldsonden
    • DB 20 setDemo Board 20
    • D10 setEMV Demonstrationselektronik
  • Produkte
  • Messtechnik für Lehre und Ausbildung
  • P1 set, Mini-Burstfeldgeneratoren
  • P12, Mini-Burstfeldgenerator (B)

P12

Mini-Burstfeldgenerator (B)

  • Kurzbeschreibung
  • Technische Parameter
Anfrage senden Datenblatt
  • P12, Mini-Burstfeldgenerator (B)
  • Aufbau des Mini-Burstfeldgenerators P12
    Aufbau des Mini-Burstfeldgenerators P12
  • Anwendung mit P12
    Anwendung mit P12
P12, Mini-Burstfeldgenerator (B) Aufbau des Mini-Burstfeldgenerators P12 Anwendung mit P12
  • P12, Mini-Burstfeldgenerator (B)
  • Aufbau des Mini-Burstfeldgenerators P12
  • Anwendung mit P12
Kurzbeschreibung

Der Mini-Burstfeldgenerator P12 erzeugt Störmagnetfeld nach dem Prinzip einer Koppelzange. Damit kann Störstrom in einzelne Leiterzüge, IC-Pins, SMD-Bauelemente und dünne Leitungen (Flachbandkabel) eingekoppelt werden. Zur Messung kann der P12 auf den Prüfling aufgesetzt werden.

Eine Baugruppe (Prüfling) hat oft einen Großteil unempfindliche und wenige empfindliche Signalverbindungen (Leiterzüge, IC-Pin). Die empfindlichen Signalverbindungen lassen sich mit dem Mini-Burstgtenerator schnell herausfinden und durch entsprechende Layoutänderungen schützen. Mit konventionellen Generatoren und Prüfplätzen lässt sich feststellen, ob ein Gerät die gesetzlich geforderten Normwerte zur Störfestigkeit einhält. Eine genaue Lokalisierung von Schwachstellen auf der Baugruppe ist nicht möglich. Um diese in einfachster Weise am Wirkungsort auf der Leiterkarte zu finden und zu beseitigen, sind genaue Informationen über die Lage, die Empfindlichkeit und die Art des Wirkmechanismus (E- oder B-Feldsensibilität) der Schwachstelle erforderlich. Aufgrund ihres kleinen handlichen Formates sind die Mini-Burstfeldgeneratoren sofort zur Stelle. Untersuchungen können direkt am Arbeitsplatz des Elektronikentwicklers durchgeführt werden.

Technische Parameter
Erzeugte magnetische Flussdichte ca. 1 mT
Pulsparameter
Pulsbreite 2 ns ... 8 ns
Frequenz single / 5 kHz
Polarität switchable
Versorgung 1.5 V / AAA
Gewicht 30 g
Maße (L x B x H) (118 x 24 x 13) mm
Messprinzip Messprinzip Messprinzip
  • © Langer EMV-Technik
  • Kontakt
  • Impressum
  • Datenschutzerklärung
  • Förderungen
  • facebook
  • YouTube
  • Linked-In
  • Twitter
Europäischer Fonds für regionale Entwicklung EFRE - Europäischer Sozialfonds ESF