ICIM DPI

Direct Power Injektion (DPI) Test nach IEC 62132-4

In der Norm IEC 62132-4 wird ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit von ICs gegen leitungsgeführte HF-Störgrößen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz beschrieben, die zum Beispiel von ausgestrahlten HF-Störungen verursacht werden. Dieses Verfahren sichert eine hohe Wiederholpräzision und g…

ICIM EFT

Test nach IEC 62215-3 und IEC 61000-4-4

In der Norm IEC 62215-3 wird ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit eines IC gegenüber genormten leitungsgeführten transienten elektrischen Störungen beschrieben. Die Störungen, erzeugt durch einen EFT/Burstgenerator nach IEC 61000-4-4, die nicht notwendigerweise auf den Betrieb des zu prüfend…

ICIM ESD

Test nach IEC 61000-4-2 (HMM)

Da ESD-Anforderungen heute einen wesentlichen Bestandteil der üblichen Komponentenspezifikationen darstellen, wurde ein ESD-Test beschrieben, der eine Prüfung des IC mit einer ESD-Prüfpistole nach ISO 10605 für globale PINs definiert (system level ESD). Für die ESD-Prüfpistole wird als Entladenetzwe…

ICIM Field

Feldgebundene Analyse

Bei den Tests der feldgebundenen Störeinkopplung werden mittels separater Magnet- und E-Feldquellen die jeweiligen Nahfelder (HF, ESD, Burst) in den Test-IC in Funktion eingekoppelt. Es ist eine weiterführende Untersuchung zu den Tests nach IEC 62132 (TEM bzw. IC-Stripline). Die Messergebnisse helfe…

ICIM L-EFT

Leitungsgebunden Langer EFT Puls Test

Die Pulsgeneratoren P202 und P302 dienen der Bestimmung der Pulsstörfestigkeit von ICs. Während einer Burst/ESD-Geräteprüfung erreichen die erzeugten pulsförmigen Störgrößen die im Device Under Test verwendeten ICs. Um die ICs individuell zu testen, bilden die Pulsgeneratoren diese abgeschwächten St…

ICIM SL

IC-Störfestigkeitsmessung mit Streifenleitung nach IEC 62132-8

Bei der Dienstleitstung ICIM SL wird die Störfestigkeit eines IC gegen hochfrequente, gestrahlte, elektromagnetische Störgrößen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 3 GHz nach der Norm IEC 62132-8 gemessen. Der zu untersuchende IC wird auf einer IC-Messadapter-Leiterkarte (printed circuit board, PCB)…

ICIM TEM

TEM-Zellen Messung nach IEC 62132-2

Die Norm IEC 62132-2 legt eine Methode zur Messung der Störfestigkeit gegen hochfrequente Störstrahlung eines IC im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz fest. Der zu untersuchende IC wird auf einer IC-Messadapter-Leiterkarte (printed circuit board, PCB) montiert, die in einer passenden Öffnung der …