XF-E 04s
E-Feldsonde 30 MHz bis 6 GHz
 
        				
        					
        						 
        					
        
        					Kurzbeschreibung
Die Nahfeldsonde erfasst die elektrischen Felder, die aus Messobjekten (ICs) auskoppeln. Die Flanken des Sondenkopfes sind geschirmt, so dass seitlich eintreffendes E-Feld nicht gemessen wird. Die Empfindlichkeit der Nahfeldsonde ermöglicht Messungen im Abstand von 0,5 mm bis 10 mm über IC’s und Baugruppen.
Die XF-E 04s ist eine passive Nahfeldsonde. Sie besitzt den gleichen prinzipiellen Aufbau wie die Sonde XF-E 09s. Zur Messung wird die E-Feldsonde über die Bauelemente oder Bereiche der Flachbaugruppe geführt bzw. aufgesetzt. Die Oberseite und die Flanken des Sondenkopfes sind elektrisch geschirmt. Die E-Feldsonde hat eine Mantelstromdämpfung. Die Nahfeldsonde wird an einen Spektrumanalysator oder ein Oszilloskop mit 50 Ω Eingang angeschlossen. Die E-Feldsonde besitzt intern einen Abschlusswiderstand.
 
           
          ![Frequenzgang [dBµV] / [dBµV/mm]](/fileadmin/Bilder300/Disturbance emission_near field probe_XF-E 04s_frequency response_en_wPZ.png?v=1761894007581) 
        									![Korrekturkurve E-Feld [dBµV/mm] / [dBµV]](/fileadmin/Bilder300/Disturbance emission_near field probe_XF-E 04s_E-field correction curve_en_wPZ.png?v=1761894007581) 
        									