Langer Nahfeldsonden weltweit in F&E

Im Folgenden finden Sie eine Auswahl von F&E-Publikationen zu Langer EMV-Technik Messgeräten aus aller Welt.

Im Folgenden finden Sie eine nicht repräsentative Auswahl von Veröffentlichungen/Papers aus Forschungs- und Entwicklungsprojekten weltweit. Für den Inhalt der verlinkten Seiten übernehmen wir keine Verantwortung. Wenn Sie Anregungen und Ergänzungen zu dieser Übersicht haben, setzen Sie sich gern mit uns in Verbindung.

2018

Methodology for EM Fault Injection: Charge-basedFault Model
Autoren: Haohao Liao, Catherine Gebotys

2016

"Employment of Microwave Absorbers for EMI/RFImitigations from High Speed Digital Buses with Signal Integrity Considerations"
Autoren: Mohammad Ali Khorrami, P. Dixon, Todd Steigerwald, Haris Chowdhry

"ECDSA Key Extraction from Mobile Devices via Nonintrusive Physical Side Channels"
Autoren: Daniel Genkin, Lev Pachmanov, Itamar Pipman, Eran Tromer, Yuval Yarom

"ESDH Key-Extraction via Low-Bandwith Electromagnetic Attacks on PCs"
Autoren: Daniel Genkin, Lev Pachmanov, Itamar Pipman, Eran Tromer

"Additively Homomorphic ring-LWE Masking"
Autoren: Oscar Reparaz, Ruan de Clercq, Sujoy Sinha Roy, Frederik Vercauteren und Ingrid Verbauwhede

2000

EASYSCAN e confronto misure/simulazione di emissione EM Close Field da PCBs
Autoren: Flavio Maggioni, Piero Belforte