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集成电路的电磁兼容性干扰发射分析
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EMV-B, 咨询 / 电子干扰排除
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专业文献：Board-EMC
集成电路的电磁兼容性抗干扰分析
集成电路的电磁兼容性干扰发射分析
专业文献： IC-EMC
集成电路的电磁兼容性抗干扰分析
集成电路的电磁兼容性干扰发射分析
Langer EMV-Technik in scientific research
资讯
09Surface Scan on IC Level with high Resolution
08 ESD and Efficient Electronic Design
07 EMC Measurement Technology for Testing Integrated Circuits - An Introduction
06 Measuring the Shielding Effectiveness at IC Level with the IC Test System P1402/P1502
05 Time and cost savings when recording and documenting RF measurements with a spectrum analyzer
04 Radiated Emissions at the PCB Level - An Introduction
03 消除脉宽调制 (PWM) 直流电机的电磁骚扰
使用朗格尔(Langer EMV-Technik GmbH)近场探头实现至6 GHz的测量
01 EMC实用技巧和建议 如何使用近场探头抑制LVDS连接的干扰
视频
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研讨会
印刷电路板的抗干扰性
印刷电路板的干扰发射
集成电路测试技术
IC Security
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近场微型探头 ICR HH
ICR HH100-6 set
ICR HH100-27 set
ICR HH150-6 set
ICR HH150-27 set
ICR HH250-6 set
ICR HH250-75 set
ICR HH500-6 set
ICR HH500-75 set
近场微型探头 Sets ICR HV
ICR 03 set
ICR E150 set
RF3 mini set
Positioning systems
扫描仪
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测试技术的学习和培训
产品
IC Security
近场微型探头 ICR HH
近场微型探头 ICR HH
测量线圈在探头中垂直安置。近场微型探头与定位系统（Langer 扫描仪）一起工作。
ICR HH100-6 set
ICR HH100-27 set
ICR HH150-6 set
ICR HH150-27 set
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