IC-Workshop

EMV-Eigenschaften von Integrieten Schaltkreisen
Inhalte:
1. Störgrößen und Koppelmechanismen
- Wirkung von Störgrößen auf elektronische Schaltungen
- Vermessung der Störgrößen von Generatoren
- Leitungsgebundene Einkopplung in IC (elektrisch / magnetisch)
- Feldgebundene Einkopplung in IC (elektrisch / magnetisch)
- Störschwellen der IC
2. Prüfstörgrößen und Prüfgeräte zur definierten Nachbildung der Störungen
- Grundprinzipien
- Burst-, ESD- und HF-Einkopplung für leitungs- und feldgebundene Vorgänge
3. Wirkung der Störgrößen auf IC
- Grundlagen der Beschaltungen im IC
- Wirkung der verschiedenen Störgrößen auf die Versorgung, GPIO oder andere IC-Elemente
Durchführung: | Experimentalvortrag |
Teilnehmerkreis: | IC-Entwickler / Designer, EMV-Ingenieure für IC-Tests (max. 10 Teilnehmer) |
Dauer: | 1 Tag (Beginn 8.30 Uhr bis ca. 17.00 Uhr) |
Ort: | Bannewitz bei Dresden |
