IC-Workshop

EMV-Eigenschaften von Integrieten Schaltkreisen

 

Inhalte:

 

1. Störgrößen und Koppelmechanismen

  • Wirkung von Störgrößen auf elektronische Schaltungen
  • Vermessung der Störgrößen von Generatoren
  • Leitungsgebundene Einkopplung in IC (elektrisch / magnetisch)
  • Feldgebundene Einkopplung in IC (elektrisch / magnetisch)
  • Störschwellen der IC

 


2. Prüfstörgrößen und Prüfgeräte zur definierten Nachbildung der Störungen
 

  • Grundprinzipien
  • Burst-, ESD- und HF-Einkopplung für leitungs- und feldgebundene Vorgänge

 


3. Wirkung der Störgrößen auf IC

  • Grundlagen der Beschaltungen im IC
  • Wirkung der verschiedenen Störgrößen auf die Versorgung, GPIO oder andere IC-Elemente

Termine und Anmeldung

Durchführung:

Experimentalvortrag

Teilnehmerkreis: 

IC-Entwickler / Designer,

EMV-Ingenieure für IC-Tests

(max. 10 Teilnehmer)

Dauer:

1 Tag  (Beginn 8.30 Uhr bis ca. 17.00 Uhr)

Ort:

Bannewitz bei Dresden