Aufbau-Experimental-Seminare

Störfestigkeit
EMV-Eigenschaften von Stecksystemen,
ESD-Störfestigkeitsbetrachtungen
Inhalte:
1. Signalbeeinflussung an Schnittstellen und Gerätegestaltung
- Modell zur Signalbeeinflussung an Schnittstellen
- Unterdrückung von Signalbeeinflussungen durch Beschaltung mit speziellen Bauelementen
- Nachteilige Wirkung der Induktivität der Bauelementeanschlüsse und ihre Kompensation
- Ungeschirmte / geschirmte Kabel
- Umgehungsleiter, praktische Bedeutung und Ausführung
- Verbindung zwischen Baugruppen
- Abstraktes Steckverbindermodell
- Steckerinduktivität, Gleichtaktstörung/Gegentaktstörung
- Messung und Auswertung von EMV-Eigenschaften von Steckverbindern
2. ESD-Störfestigkeit
- Beurteilung der Einkopplung von ESD-Pulsen
- Wirkung der einzelnen Beeinflussungskomponenten für Baugruppen
- ESD-Wirkung auf IC und Datenverbindungen
- Abhilfe bei ESD-empfindlichen Baugruppen
Durchführung: | an 6 Experimentalplätzen |
Teilnehmerkreis: | Entwickler, EMV-Ingenieure - maximal 12 Teilnehmer |
Dauer: | 1 Tag (Beginn 8.00 Uhr bis ca. 17.00 Uhr) |
Ort: | Bannewitz bei Dresden |

Störaussendung
Entstörung einer Baugruppe am Arbeitsplatz,experimentell von Ihnen selbst erkundet
Inhalte:
1. Wirkmechanismen
- Störaussendungsmodell von elektronischen Baugruppen
- Wirkmechanismen der Strahlungsauskopplung
- Einfluss von Schaltkreisparametern
2. Methodik der Störaussendungsanalyse am Arbeitsplatz
- Anwenden der Wirkmechanismen auf Flachbaugruppen
- Methodik des entwicklungsbegleitenden Untersuchung der Baugruppe
- Bewertung der entwicklungsbegleitenden Messergebnisse
3. Entstörungsbeispiele
- Messung Störaussendung mit Antenne im Labor
- Messung der HF-Störanregung der Baugruppe am Arbeitsplatz
- Analyse der Störstromwege
- Entstörungsmaßnahmen
Durchführung: | an 6 Experimentalplätzen |
Teilnehmerkreis: | Entwickler, EMV-Ingenieure - maximal 12 Teilnehmer |
Dauer: | 1 Tag (Beginn 8.00 Uhr bis ca. 17.00 Uhr) |
Ort: | Bannewitz bei Dresden |
