Feldquellen für Generatoren nach EN 61000-4-4
BS 02 | BS 04 DB | BS 05 DB | BS 05 DU | ES 00 | ES 01 | ES 02 | ES 05 D | ES 08 D
Beschreibung BS 02
Die Magnetfeldquelle erzeugt ein B-Feldbündel von > 5 cm Durchmesser. Sie ist für Geräte- und Baugruppenuntersuchungen gleichermaßen geeignet. Entsprechend der Sondengröße lassen sich großflächig Gehäuseoberflächen und Innenbereiche, Verbindungstechnik und Baugruppen mit Leiterzugstrukturen und IC beaufschlagen und magnetisch sensible Schwachstellen erkennen.
- Design BS 02
- Anwendung BS 02
Beschreibung BS 04 DB
Die Feldquelle generiert ein B-Feldbündel im Millimeterbereich (> 3 mm). Mit dem an der Stirnseite der Sonde austretenden Feldstrahl wird die Oberfläche von Leiterkarten abgetastet. Dies gestattet das Auflösen von magnetischen Schwachstellen im Layout und Bestückungsbereich. Kritische Leiterzugabschnitte, Bauteile und Bauteilanschlüsse sind lokalisierbar.
- Design BS 04 DB
- Anwendung BS 04 DB
Beschreibung BS 05 DB
Die Magnetfeldquelle erzeugt einen sehr feinen aus der Sondenspitze austretenden B-Feldstrahl (> 1mm) und ist damit für die Lokalisierung punktförmiger Schwachstellen geeignet. Mit dem Feldstrahl wird die Oberfläche von Leiterkarten und Bauteilen abgetastet. Der kleine Durchmesser und die scharfe Bündelung des Strahls ermöglicht eine hohe Auflösung. Vor Anwendung der Feldquelle BS 05 DB ist die Schwachstelle grob mit der Sonde BS 02 oder BS 04 DB einzugrenzen.
- Design BS 05 DB
- Anwendung BS 05 DB
Beschreibung BS 05 DU
Die Feldquelle BS 05 DU erzeugt ein winziges kreisförmiges Pulsmagnetfeld (Millimeterbereich). Sie kann als Mini-Koppelzange zur selektiven Störstrom- und Störspannungseinkopplung auf einzelne Leiterzüge, IC-Pin, SMD-Bauelemente, dünne Leitungen (Flachbandkabel) aufgesetzt werden. Eine Baugruppe (Prüfling) hat oft einen Großteil unempfindliche und wenige empfindliche Signalverbindungen (Leiterzüge, IC-Pin). Die empfindlichen lassen sich mit der Feldquelle schnell herausfinden und durch entsprechende Layoutänderungen schützen.
- Design BS 05 DU
- Anwendung BS 05 DU
Beschreibung ES 00
Mit der Feldquelle sind großflächige elektrische Einkopplungen möglich (1,5 dm²). Elektrisch sensible Schwachstellen erstrecken sich oftmals flächenhaft über 10 bis 15 cm einer Baugruppe (LCD-Display, Bussysteme). Auf kleine Feldquellen reagieren diese Schwachstellen nicht. Es sind großflächige Feldquellen wie die ES 00 erforderlich, um derartige Schwachstellen aufzuspüren. Die Feldquelle kann auch zur Einkopplung in Gehäuse verwendet werden.
- Design ES 00
- Anwendung ES 00
Beschreibung ES 01
Mit der Feldquelle sind großflächige elektrische Einkopplungen möglich. Sie eignet sich zur Beaufschlagung von Flächensensibilitäten im Bereich zwischen 5 und 10 cm Ausdehnung und ordnet sich zwischen die Feldquelle ES 02 und ES 00 ein (siehe zugehörige Beschreibung). Für diese Anwendung kann die Feldquelle ES 02 zu klein und die ES 00 zu groß sein.
- Design ES 01
- Anwendung ES 01
Beschreibung ES 02
Die E-Feldsonde kann mit ihrer Spitze zum Lokalisieren E-Feldsensibler kleinräumiger Schwachstellen verwendet werden (Leiterzüge, Quarze, Pullup-Widerstände, IC). Die Fläche der Feldquelle dient zum großflächigen Einkoppeln in Gehäuseoberflächen und Innenbereiche, Verbindungstechnik und Baugruppen mit Leiterzugstrukturen und IC (z.B. Bussysteme, LCD-Displays).
- Design ES 02
- Anwendung ES 02
Beschreibung ES 05 D
Die E-Feldquelle besitzt einen schmalen linienförmigen Sondenkopf von dem aus sich das E-Feld zur Gegenelektrode am Schaft schließt. Damit ist sie für die Schwachstellensuche im Leiterzug- und Bauteilbereich von Baugruppen hervorragend geeignet: E-Feld-Einkopplungen auf einzelne Leiterzüge, Drähte, Pins und Bauteile, insbesondere auf einzelne SMD-Bauelemente wie Widerstände und Kondensatoren sind gezielt möglich. Die Feldquelle wird mit dem Sondenkopf direkt aufgesetzt.
- Design ES 05 D
- Anwendung ES 05 D
Beschreibung ES 08 D
Die Sonde ES 08 D eignet sich zum Bestimmen der Empfindlichkeit von IC-Pin und Leiterzügen – insbesondere bei sehr kleinen Strukturen. Zum Test wird die Sondenspitze mit dem Pin/Leiterzug kontaktiert und durch Änderung der Intensität am Burstgenerator die Empfindlichkeit ermittelt. Innerhalb der Sonde wird der Burstimpuls kapazitiv (ca. 1pF) auf die Sondenspitze gekoppelt.
- Design ES 08 D
- Anwendung ES 08 D