E 1 - Magnetfeldquellen

BS 02

Die Magnetfeldquelle erzeugt ein B-Feldbündel von > 5 cm Durchmesser. Sie ist für Geräte- und Baugruppenuntersuchungen gleichermaßen geeignet. Entsprechend der Sondengröße lassen sich großflächig Gehäuseoberflächen und Innenbereiche, Verbindungstechnik und Baugruppen mit Leiterzugstrukturen und IC's beaufschlagen und magnetisch sensible Schwachstellen erkennen.

BS 04 DB

Die Feldquelle generiert ein B-Feldbündel im Millimeterbereich (> 3 mm). Mit dem an der Stirnseite der Sonde austretenden Feldstrahl wird die Oberfläche von Leiterkarten abgetastet. Dies gestattet das Auflösen von magnetischen Schwachstellen im Layout und Bestückungsbereich. Kritische Leiterzugabschnitte, Bauteile und Bauteilanschlüsse sind lokalisierbar.

BS 05 D

Die Magnetfeldquelle erzeugt ähnlich der BS 04 DB ein B-Feldbündel von > 3 mm Durchmesser. Die Feldlinien verlaufen jedoch 90° zum Sondenschaft. Damit eignet sich die Sonde besonders zur Lokalisierung von Schwachstellen in schwer zugänglichen Bereichen von Baugruppen. Vor Anwendung der Feldquelle BS 05 D sollte die Schwachstelle grob mit der Sonde BS 02 oder BS 04 DB eingegrenzt werden.

BS 05 DU

Die Magnetfeldquelle erzeugt ein kreisförmiges Pulsmagnetfeld im Millimeterbereich. Sie kann als Mini-Koppelzange zur selektiven Störstrom- und Störspannungseinkopplung auf einzelne Leiterzüge, IC-Pin's, SMD-Bauelemente oder dünne Leitungen aufgesetzt werden. Eine Baugruppe (Prüfling) hat oft einen Großteil unempfindliche und wenige empfindliche Signalverbindungen (Leiterzüge, IC Pin's). Die empfindlichen lassen sich mit der Feldquelle schnell finden und durch entsprechende Layoutänderungen schützen.