ES 00
Mit der E-Feldquelle sind großflächige elektrische Einkopplungen möglich (1,5 dm²). Elektrisch sensible Schwachstellen erstrecken sich oft flächenhaft über 10 bis 15 cm einer Baugruppe (LCD-Display, Bussysteme). Auf kleine Feldquellen reagieren diese Schwachstellen nicht. Es sind großflächige Feldquellen erforderlich, um derartige Schwachstellen aufzuspüren. Die Quelle kann auch zur Einkopplung in Gehäuse verwendet werden.
- Bauform ES 00
- Anwendung ES 00
ES 01
Mit dieser E-Feldquelle sind großflächige elektrische Einkopplungen möglich. Die Sonde eignet sich zum Beaufschlagen von flächen- oder linienförmigen Schwachstellen im Bereich von 5 bis 10 cm Ausdehnung und ordnet sich zwischen die Feldquellen ES 02 und ES 00 ein, da für verschiedene Anwendungen die Quelle ES 02 zu klein und die Quelle ES 00 zu groß sein kann.
- Bauform ES 01
- Anwendung ES 01
ES 02
Die E-Feldquelle kann mit ihrer Spitze zum Lokalisieren von E-Feld sensiblen kleinräumigen Schwachstellen verwendet werden (Leiterzüge, Quarze, Pullup-Widerstände, IC's). Die Fläche der Feldquelle ermöglicht das großflächige Einkoppeln in Gehäuseoberflächen und Innenbereiche, Verbindungstechnik und Baugruppen mit Leiterzugstrukturen und IC's (z.B. Bussysteme, LCD-Displays).
- Bauform ES 02
- Anwendung ES 02
ES 05 D
Die E-Feldquelle besitzt einen schmalen linienförmigen Sondenkopf von dem aus sich E-Feld zur Gegenelektrode am Schaft schließt. Damit ist sie für die Schwachstellensuche im Leiterzug- und Bauteilbereich von Baugruppen hervorragend geeignet: E-Feldeinkopplung auf Leiterzüge, Drähte, Pin's und Bauteile, insbesondere auf einzelne SMD-Bauelemente wie Widerstände und Kondensatoren sind gezielt möglich. Die Sonde wird mit dem Sondenkopf direkt aufgesetzt.
- Bauform ES 05 D
- Anwendung ES 05 D
ES 08 D
Die Sonde ES 08 D eignet sich zum Bestimmen der Empfindlichkeit von IC-Pin und Leiterzügen – insbesondere bei sehr kleinen Strukturen. Zum Test wird die Sondenspitze mit dem Pin/Leiterzug kontaktiert und durch Änderung der Intensität am Burstgenerator die Empfindlichkeit ermittelt. Innerhalb der Sonde wird der Burstimpuls kapazitiv (ca. 1pF) auf die Sondenspitze gekoppelt.
- Bauform ES 08 D
- Anwendung ES 08 D