Nahfeldsonden vom Typ XF
Frequenzbereich: 30 MHz - 6 GHz
Magnetfeldsonde XF-R 400 - 1
Die Nahfeldsonde besitzt auf Grund ihres großen Durchmessers (25 mm) die höchste Empfindlichkeit aller Magnetfeldsonden im Produktspektrum. Sie kann im Abstand bis zu 10 cm um Baugruppen und Geräten eingesetzt werden. Es lassen sich räumliche HF-Magnetfeldverteilungen im Geräte- und Baugruppenbereich ermitteln und Rückschlüsse auf Störaussendungen ziehen.
Magnetfeldsonde XF-R 3 - 1
Die Nahfeldsonde dient der Erfassung von HF-Magnetfeldern mit großer geometrischer Auflösung. Die Feldorientierung und -verteilung kann durch entsprechende Führung der Sonde im räumlichen Bereich um Leiterzüge, im Pin- und Gehäusebereich vom IC, an Blockkondensatoren, EMV-Bauelementen im Bereich des Versorgungssystems usw. erfasst werden.
Magnetfeldsonde XF-U 2,5 - 1
Die Nahfeldsonde dient der selektiven Erfassung des HF-Stromes in Leiterzügen und Bauelemente-anschlüssen, Kondensatoren, IC-Pin. Der Sondenkopf besitzt einen magnetisch aktiven Spalt von ca. 0,5 mm Breite. Zur Messung wird die Sonde mit dem Spalt auf Leiterzüge, IC-Anschlüsse oder Anschlüsse von Kondensatoren aufgesetzt.
Magnetfeldsonde XF-B 3 - 1
Die Nahfeldsonde dient der Erfassung von Magnetfeldern, die senkrecht aus der Oberfläche von Flachbaugruppen austreten. Damit eignet sie sich besonders zur Erkundung von Stromschleifen. Die Sonde ermöglicht Messungen an schwer zugänglichen Stellen der Leiterkartenoberfläche (z.B. zwischen großen Bauteilen von Schaltreglern).
E-Feldsonde XF-E 04 s
Die Nahfeldsonde erfasst die elektrischen Felder, welche getaktete Leitungen und kleinere IC's über ihre Oberfläche auskoppeln. Die geschirmte Elektrodenfläche der Sonde unterbindet eine Beeinflussung des Messergebnisses durch benachbarte Felder. Die Empfindlichkeit der Sonde ermöglicht im Abstand (0,5 mm bis 10 mm) über der Baugruppe zu messen.
E-Feldsonde XF-E 09 s
Die Nahfeldsonde erfasst die elektrischen Felder, welche aus der Oberfläche von hochpoligen IC's auskoppeln. Die geschirmte Elektrodenfläche der Sonde unterbindet eine Beeinflussung des Messergebnisses durch benachbarte Felder. Die Empfindlichkeit der Sonde ermöglicht im Abstand (0,5 mm bis 10 mm) über IC's sowie Baugruppen zu messen.
E-Feldsonde XF-E 10
Die Nahfeldsonde erfasst die elektrischen Felder, die getaktete Leitungen über ihre Oberfläche auskoppeln. Die Spitze des Sondenkopfes ist nur ca. 0,5 mm breit. Die integrierte Schirmung unterbindet eine Beeinflussung des Messergebnisses durch benachbarte Leitungen. Es ergibt sich eine Auflösung von ca. 0,2 mm, so dass jeder einzelne Leiterzug im Layout bewertet werden kann.


















