ESD - Feldeinkopplung mit Probes P1202-2 nach IEC 61000-4-2 und P1202 /P1301
Anwendung:
Die Feldquellen erzeugen ein ESD-Feld (H-/E-Feld) und dienen der Messung der ESD-Feldfestigkeit von IC, insbesondere von hochpoligen IC (Chipsätze). Die Probes werden in definiertem Abstand (3 bzw 10 mm) über dem IC angeordnet.
Eigenschaften:
Für die Erzeugung des ESD-Feldes (H-/E-Feld) wird in der Probe eine Stromschleife mit einem Pulsstrom gespeist. Es entsteht ein Feldimpuls( H-/E-Feld), der aus dem Boden der Probe austritt. Die Flankensteilheit von 200 ps erzeugt im IC ähnliche Wirkung wie ESD-Einschwingvorgänge.
Technische Parameter:
Probes | P1202-2 | P1202 | P1301 |
Pulsstrom/spannung: | ± 150 A | ± 150 A | ± 0,1 - 9,5 kV |
Pulsform: | 0,7 / 60 ns | 0,2 / 2,5 ns | 0,2 / 5,5 ns |
Pulsfrequenz: | 0,1 - 10 Hz | ||
Hochspannung: | ± 0,1 - 9,5 kV | ||
Messausgang: | 50 Ohm, SMB | ||
Steuergerät: | |||
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Shunt für Strommessung: | 0,1 Ohm | 0,1 Ohm | |
Stromkorrektur- faktor R: | -26 dB Ohm | -26 dB Ohm |
ESD H-field injection Probe P1202-2 (IEC 61000-4-2):
ESD H-field injection Probe P1202:
ESD E-field injection Probe P1301:
