HF-Einkopplung mit Probes P500 nach IEC EN 62132-4

Hochfrequente Strom- und Spannungseinspeisung in das IC-Pin

Bisher wurden zur Charakterisierung der HF-Störfestigkeit eines IC in seine Pins HF mit einer bestimmten Leistung eingekoppelt und anhand der Fehlfunktion des IC auf interne Beeinflussung geschlossen.

Die HF-Störgröße aus dem Leistungsverstärker fließt durch die angeschlossene Probe in das zu beurteilende Pin. Gleichzeitig wird in der Sondenspitze eine HF-Stom- und Spannungsmessung durchgeführt. Aus den gewonnen Parametern können genauere Rückschlüsse auf die EMV eines IC abgeleitet werden.

Treten Funktionsfehler bei großen Stromwerten auf, werden sie magnetisch verursacht – bei großen Spannungswerten wird eine kapazitive Verkopplung die Ursache sein. Die mit den neuen Messverfahren gemessenen Blindströme werden mit einer üblichen Leistungsmessung nicht erfasst. Detaillierte physikalische Erkenntnisse blieben dadurch verborgen. Von dieser neuen Messmethode der HF-Einströmung profitiert die IC-Entwicklung.