Messebeteiligungen
electronica China &
productronica China 2013
19. - 21. März 2013
Shanghai / China, Teil 2/2 / E3.3732
http://www.electronica-china.german-pavilion.com
EMV 2013 Stuttgart
05. - 07. März 2013
Messe Stuttgart
Stand C2-202
Messeneiheit:
IC Scanner
Typ ICS 105
electronica 2012
13. - 16. November 2012
Messe München
A1 / 128
Neuer LWL-Tastkopf
AS300 mit
5 MHz Bandbreite
EMV 2012 Düsseldorf
07. - 09. Februar 2012
Messe Düsseldorf
Stand CCD1-313
EMC Compo 2011
06. - 09. November 2011
Centre for Advanced Academic Studies
University of Zagreb
Dubrovnik / Kroatien
8. Internationaler Workshop
für elektromagnetische Kompatibilität von integrierten Schaltkreisen
electronic environment 2011
05.-06. April 2011
Stockholm / Schweden
Workshop - EMC:
"Disturbance immunity - Eliminating disturbance immunity faults of electronic devices"
(Ref. Dipl.-Ing. (BA) Sven König, LANGER EMV-Technik GmbH)
- Treffen mit Mr. Shingo Arai von Testram aus Japan am Messestand
EMV 2011 Stuttgart
15. - 17. März 2011 Messe Stuttgart / Stand C2-202
Workshopvortrag
"EMV-Eignung von Steckverbindern für Elektronikanwendungen"
(Ref. Dipl.-Ing. Gunter Langer, Geschäftsführer der LANGER EMV-Technik GmbH)
Kompaktseminar
"Ermittlung der EMV-Eigenschaften von integrierten Schaltkreisen"
(Ref. Dipl.-Ing. (BA) Sven König, LANGER EMV-Technik)
LANGER EMV-Technik
Stand A1-128
- Neu: MFA01-aktive Nahfeldsonden bis 6 GHz
EMV 2010 Düsseldorf
09. - 11. März 2010
Messe Düsseldorf / Stand CCD-216
Workshopvortrag
"Praxisbewährte Strategie zur Lösung von Störaussendungsproblemen
bei der Entwicklung von elektronischen Baugruppen und ASICs"
(Ref. Dipl.-Ing. Gunter Langer, Geschäftsführer der LANGER EMV-Technik)
EMC Compo 2009
17. - 19. November 2009
Hotel Mercure ATRIA
Toulouse, Frankreich
7. Internationaler Workshop
für elektromagnetische Kompatibilität von integrierten Schaltkreisen
5. GMM - Fachtagung "EMV in der Kraftfahrzeugtechnik"
21. - 22. Oktober 2009
BMW-Welt in München
Session 4:
"Neue Wege für die Realisierung der EMV von Baugruppen
durch die Einbeziehung der IC-Eigenschaften."
(Ref. Dipl.-Ing. Gunter Langer, LANGER EMV-Technik GmbH)
SEMICON Europe 2009
06. - 08. Oktober 2009
Neue Messe Dresden
Halle 4 / Stand 4.536
Wir stellen vor:
Messtechnik zur Ermittlung von EMV-Eigenschaften des IC und ASIC
EMV 2009 Stuttgart
10. - 12. März 2009 / Stand C2-202
Workshopvortrag
"Neue Wege für die Realisierung der EMV von Geräten durch Einbeziehung der IC-Eigenschaften."
(Ref. Dipl.-Ing. Gunter Langer, Geschäftsführer der LANGER EMV-Technik)
ERETEC-Vertrieb besucht den Messestand der Langer EMV-Technik.
electronica 2008
11. - 14. November 2008
Neue Messe München / A1-126
- Messplatz ESD-Feldfestigkeit
EMV 2008 Messe Düsseldorf 19. - 21. Februar 2008 / Stand CCD-307
Geschäftsführer Herr Langer stellt die neuen IC-Messplätze der LANGER EMV-Technik vor.
EMC COMPO 2007
28. - 30. November 2007
Turin, Italien
6. Internationaler Workshop
für elektromagnetische Kompatibilität von integrierten Schaltkreisen
Vorstellung des LANGER IC-Scanners ICS 103
- EMV-Koffersets
- Langer IC-Scanner
Neue EMV-Messtechnik für IC nimmt zentralen Platz auf der EMV 2007 in Stuttgart ein.
- Dr. Schubert erklärt EMV-Messung mit dem Langer IC-Scanner ICS 103.
- Herr Maag und Herr Wacker von ROSCHI ROHDE & SCHWARZ AG
EMV 2006 Düsseldorf
7. - 9. März 2006
Messe Düsseldorf
Halle 1 Stand E08
Chairmann & CEO Mr. Jun-Sun Park und Senior Sales Manager Mr. Yeon-Soo Han beim Treffen mit General Manager Mr. Gunter Langer und seinem Messeteam auf der EMV 2006 in Düsseldorf.
measurement 2006 15. - 16. Februar 2006 Göttingen
Workshop zum Thema "Entwicklungsbegleitende Emissions- und
Immunitätsuntersuchungen auf PCBs" am 15.02. 2006 um 13:30 Uhr.
Herr Dipl.-Ing. Georg Dude und Herr Peter Michak erklären Standbesuchern
das entwicklungsbegleitende Messen mit dem System E1.
EMC Compo 2005
5. Internationaler Workshop
für elektromagnetische Kompatibilität von integrierten Schaltkreisen
28. - 30. November 2005
München
- Konferenzsaal der Audi AG
4. GMM - Fachtagung
"EMV in der Kraftfahrzeugtechnik"
(GMM- Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik)
26. - 27. Oktober 2005, Ingolstadt
EMV 2005 Stuttgart
Internationale Fachmesse mit Workshops für Elektromagnetische Verträglichkeit
Stuttgart, Deutschland
15.03.2005 - 17.03.2005
Herr Hacker erklärt unseren neuen IC-XYZ-Scanner.
electronica 2004
21. Internationale Fachmesse für Bauelemente und Baugruppen der Elektronik
Neue Messe München / 09.11.2004 - 12.11.2004
- Herr Langer bei der Vorführung des neuen IC Test Systems.
- Herr Hacker erklärt unser Entwicklungssystem Störfestigkeit E1.
- Herr Zschoche im Gespräch mit einem Besucher auf unseren Messestand.