Meilensteine

1980

EMV-Grundlagenforschung für elektronische Baugruppen

(18 Patente und Gebrauchsmuster / 4 Europaanmeldungen)

1993

Beginn von EMV-Beratungen in der Industrie

1994

Forschung zum technologischen Schutz auf Baugruppen vor Burststörgrößen

1996

Markteinführung des Entwicklungssystems Störfestigkeit E1

1997

Entwicklung unserer ersten digitalen optischen Messsysteme der OSE-Reihe

1998

Magnetfeldquellen und E-Feldquellen für Burstgeneratoren nach EN 61000-4-4

2000

Produktion unserer ersten analogen optischen Messsysteme der A-Reihe

2001

Forschungsarbeit über Störaussendungsprobleme der Automobil-Elektronik

2002

Markteinführung des Entwicklungssystems Störaussendung ESA1

2003

Vorstellung des EMV IC Test Systems für die HF-gerechte Messungen von Strom und Spannung und Einspeisung der Burstströme und -spannungen in separate Pins.

2004

Zulieferer von Nahfeldsonden für die Firma Rohde & Schwarz GmbH & Co.KG

2005

Markteinführung von Magnetfeldsonden für IC-Scanner mit einem Innendurchmesser von 150 µm

2007

Erweiterung des analogen optischen Messsystems bis 500 kHz Bandbreite (A200)

2008

Neue ICR Nahfeldmikrosonden für IC-Scanner bis 6 GHz mit einem Innendurchmesser von 100 µm

2009

Zertifizierung der Firma als Träger Beruflicher Weiterbildung

2010

Frequenzerweiterung bis 6 GHz der Produktgruppe Nahfeldsonden