EMV-Messunterstützung am IC

Messplatz für Impulsstörgrößen (Burst, ESD)

Der Messplatz dient der Bestimmung der Impulsstörfestigkeit von IC’s. Praktischer Hintergrund ist die Burst- und ESD- Störfestigkeit von Flachbaugruppen und elektronischen Geräten. Diese werden einer Burst und ESD Prüfung unterzogen (IEC-Norm 61000-4-2/61000-4-4). Die Prüfspannungen liegen im kV- Bereich. Die IC’s selbst besitzen bedeutend niedrigere Störpegel.
Die aussen an das Gerät angelegten Impulsspannungen werden auf dem Weg zum IC abgeschwächt. Aus einigen kV ausserhalb des Gerätes werden Spannungen von etwa 1 ... 100 V am IC-Eingang. Die Generatoren der Serie P200 und P300 bilden diese abgeschwächten Impulse nach.

test setup impulse immunity

 

Um diese zu messen, sind zwei Arten von Impulsgeneratoren notwendig: 

 

Direkte Puls-Stromeinkopplung (P200)

Der P200 Pulsstromgenerator, bildet Burst- bzw. ESD- Magnetfeldeinkopplung von Flachbaugruppen nach.

Burst-System
Burst-System

 

Direkte Puls-Spannungseinkopplung (P300)
Der P300 Pulsspannungsgenerator (100 Ohm), bildet Burst- bzw. ESD-, E-Feldeinkopplung von Flachbaugruppen nach.

 

Download: "Neue Burstgeneratoren zur Prüfung der Störfestigkeit von ICs" (pdf, 269 kb)