EMV-Messunterstützung am IC
Messplatz für Leitungsgebundene HF-Einkopplung in IC (DPI-Methode)
Direkte HF - Einkopplung zur Prüfung der Störfestigkeit mit dem automatischen Messplatz P500.
Leitungsgebundene HF-Einkopplung in den IC bis zu 3 GHz, Anwendung der DPI- Methode (IEC 62132-4 und BISS).
- Blockschaltbild Messplatz P500
Der übliche DPI- Messplatz wird mit der Probe P500 erweitert. Die HF-Einkopplung in den IC erfolgt über den Pinkontakt der Probe P500. Mit dem Pinkontakt können beliebige Pins des IC kontaktiert und geprüft werden. Die Versorgung, Steuerung und Überwachung des ICs erfolgt über den IC-Adapter in der GND-Plane. Zusätzlich zur Leistungsmessung (Powermeter) wird in der Probe P500 eine Messung der Zeitverläufe des eingekoppelten HF- Strom und der HF- Spannung durchgeführt. Die Strom- bzw. die Spannungsverläufe werden von einem Oszilloskop weiterverarbeitet. Es berechnet Phasenwinkel und Effektivwerte.
Das ist besonders für die IC- Entwicklung vorteilhaft. Am Strom- und Spannungsverlauf ist das Öffnen von Strompfaden (Dioden ablesbar).
- Schnittbild Testboard P500
Der Messplatz besitzt eine Leistungsregelung, bei der für vorgegebene Frequenzschritte stufenweise die HF-Leistung erhöht wird. Fehler werden automatisch detektiert und die gewonnenen Werte in eine Excel- und ODBC- Datenbank eingetragen.
Download: "Kurzbeschreibung P500 Meßsystem" (pdf, 457 kb)