EMV-Messunterstützung am IC
EMV-Messungen nach BISS / IEC
Wir unterstützen Normmessungen nach BISS / IEC an ICs. Bei unserem Messaufbau sind die mit den Pins verschalteten Shunts und Spannungsteiler aus der DUT Leiterkarte herausgelöst und in einer frei beweglichen Probe enthalten. Damit werden alle Pins frei zugänglich. BGAs werden auf die Rückseite der DUT Leiterkarte montiert und über Vias mit der Probe kontaktiert. Wir unterstützen folgende Messungen:
Messmethode | nach IEC-Norm | Probe | Messplatz | ||
|---|---|---|---|---|---|
Emission | 1. | 150 / 1 Ohm Method | 61967-4 | ||
2. | TEM Cell Method | 61967-2 | |||
3. | Surface Scan Method | 61967-3 | ICS103 | ||
Immunity | 4. | Direct Power Injektion (DPI) | 62132-4 | ||
5. | TEM Cell Method | 62132-2 |
Für die oben angegebenen Messungen an ICs stehen in der Fa. Langer automatische Messplätze zur Verfügung. Besonders bei Messungen nach der DPI-Methode ergibt sich ein hoher Aufwand an Gerätetechnik und Messzeit. Aus Effektivitätsgründen ist eine automatisch arbeitende Messanordnung erforderlich.
Bitte fragen Sie an, wir beraten Sie gern und unterbreiten Ihnen ein entsprechendes Angebot.